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首页磁测产品软磁材料测量系列

TD8160 单片非晶磁性测量系统

参照标准: GB/T 19345.1 ( 最新修订版,天恒测控参与起草 )

测量非晶 / 纳米晶合金薄片、也可测量其他软磁材料

单片样磁场测量兼容国际主流的M.C 法和 H-Coil 

被测样品尺寸:W  × LT10 μm 500 μm

    

  

产品概述

TD8160 专用于测量非晶或纳米晶薄片 (带) 交流磁特性的装置,由励磁及精密测量装置、单片磁导计、全自动测量软件组成测量频率(40 Hz 65 Hz,可定制至 400 Hz)。使用该装置可在能耗、效率、材料均匀性/一致性、可靠性、整个生命周期的成本等方面全面优化您的产品。参照标准: GB/T 19345.1 ( 最新修订版,天恒测控参与起草 ) 

主要应用

  被测材料种类:主要为非晶 / 纳米晶合金薄片、也可适用于测量其他软磁材料。

  主要测量方法:单片样磁场测量兼容国际主流的方法:M.C 法和 H-Coil 法。

  被测样品尺寸:W ( 10 215 ) mm × L ( 280 320 ) mmT10 μm 500 μm

  测量电学参量:电压、电流、功率、频率、相位、功率因数、谐波等。

  测量磁性参量:磁通密度 B、磁场强度 H、磁极化强度 J、比总损耗 Ps、比视在功率 Ss

                             饱和磁通密度 Bs、矫顽力 Hc、磁导率、波形因数等。

  绘制磁性曲线:磁化曲线、磁滞回线等;可切换多种磁测量单位。

功能特点

  可选配专用的校准模块和校准转接头,通过高等级的电压表、电流表、功率表对装置进行校准。

  样品的磁特性参数可溯源至电磁学基本量以保证测量数据的重复性、一致性、可比性和准确度。

  标准样品仅用于测量数据比对,不得用于对本装置进行校准。

  单片磁导计采用双磁轭结构,可实现磁轭退磁和样品退磁。

  配备专业软件,除放置样品和设置参数外,整个测试过程可全自动完成。

  软件操作简便,且具有强大的数据管理功能,方便查看历史数据和报告导出。

  励磁源与测量装置采用模块化设计,方便升级和维修。

系统应用结构图

8160  

磁参量测量范围

81602

测量条件

  T 23 ± 5 试验开始之前本装置应进行 30 分钟以上的预热

  试样放置于测定框内在多次测量过程中样品应不再被移动 测量次数10 

  重复性 ={[(最大值 - 最小值)÷ 2 ] ÷ 平均值 } × 100%

  准确度一般指一年内系统的测量值与标准值的最大允许误差

单片磁导计

81603  

全自动测量软件

12123

非晶测量特性简介

非晶带材与取向硅钢带材相比有以下特点

  非晶带材的厚度很薄一般为 0.025 mm只有取向硅钢带材的 1/10 左右

  比总损耗很低P1.5 / 50 的典型值约为 0.2 W/kg该值是取向硅钢 P1.7 / 50 典型值的 1/5 左右

  具有高磁致伸缩和低的磁各向异性且易产生应力而使其磁性能恶化

  还具有低矫顽力高磁导率低饱和磁感高电阻率等特点

  由上可见在工频下测量非晶磁性能宜采用单片磁导计进行测量 ( 单片法 )

测量方法

  单片法是国际主流的非晶测量方法之一如美标 A932 和日标 H7152 均早已提出了该方法

    2014  IEC 起草的标准和我国 2015 年修订的 GB/T 19345.1 均提出了单片法测量非晶磁性能

  单片法与环样法相比其测量数据更能反映材料本身的磁特性且省去了制样与绕线等复杂过程

  由于铁基非晶带材的上述特点可见单片法的技术要求和实现难度均很高

    与普通取向硅钢带材相比对磁测设备的灵敏度要求高近 100 

    考虑到非晶带材试样很小

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